102年3月號 道 法 法 訊 (251)	DEEP & FAR
均等論如何能解救申請專利範圍之解釋 (19) Nathaniel Durrance原著		林明燕 執行經理 ．東海大學法律系
VI. 公開地處理RDOE衡平緊張局勢之申請專利範圍解釋新範例 A. 判斷無論攻擊或防禦均等論之事實關連性 最高法院發表聲明：在作此認定時，法院須檢視發明專利之每一元件及詢問被控裝置是否具一以實質上相同方法執行實質上相同功能而達成實質上相同結果之元件（註一）。因此，被控裝置之元件與申請專利範圍之元件間必然須為比較（註二）。 對此比較，法院須再次評估已專利發明。然而，在此階段，法院須仔細小心的閱讀說明書及其書面敘述、圖式及申請歷程，以及專利之申請專利範圍。即係藉由參照此內部證據，習知本領域技術之人於發明之際，始認知專利真正本質所獲得/推知者。 註一：Warner-Jenkinson Co. v. Hilton Davis Chem. Co.案：經下級法院討論，此語言表達係相類似於所謂「三重身分」檢驗。 註二：然而，請注意此違反了於申請專利範圍解釋中長期存在對比被控裝置而參考之規則。例如參SRI Int’l. v. Matsushita Elec. Corp. of Am. (指出申請專利範圍不能參考被控裝置而為解釋)；Vitronics Corp. v. Conceptronic, Inc. (認定若內部證據本身得解決任何意義不明確，外部證據不得為申請專利範圍解釋所考量。) 此規則避免當法官認為其具有正當理由時，單純地引進避免侵權限制之人為定義。然而，如先前所討論，所提議之檢驗可藉由申請專利範圍解釋之第一部份期間強調普通意義而防止此問題。僅於普通一般意義被認定後，被控裝置始於均等分析被參考。尤其，規則之適用，於近幾年已開始式微。例如參AFG Indus., Inc. v. Cardinal IG Co., Inc. (「未能慮及習知本領域技術人員證詞可能構成可逆錯誤。」)；Pitney Bowes, Inc. v. Hewlett-Packard Co. (「在Vitronics案中，法院諮詢可靠外部證據係完全適當的（或許是較好的）。」) 亦參Texas Digital, Inc. v. Telegenix, Inc.；Dow Chem. Co. v. Sumitomo Chem. Co. (法院在申請專利範圍解釋中，本可自由諮詢科學辭典及技術論文)；Multiform Dessicants, Inc. v. Medzam, Ltd.